Cada vez se publican más documentos científicos que demuestranQSense^®Fiabilidad de la tecnología.

El núcleo de esta tecnología es que los cristales de cuarzo oscilan a una frecuencia específica bajo un voltaje de carga. Cuando la masa en la superficie del cristal cambia, la frecuencia de resonancia oscilante del cristal también cambia. Con este método, se pueden determinar la masa de la interfaz y los cambios estructurales en la sensibilidad del nivel nanométrico. El método puede medir cualquier superficie de material que pueda formar una película delgada en tiempo real y sin marcar.

QSense^®Se pueden medir cambios de masa y también se pueden medir factores de disipación al mismo tiempo, proporcionando así información sobre la estructura y la elasticidad de la película. Puede proporcionar información como el grosor molecular, la estructura y el contenido de agua de la película de adsorción. Además, se pueden detectar cambios en la capa de adsorción superficial antes de la reacción y después de la neutralización.

Metales, polímeros, superficies modificadas químicamente, siempre y cuando los materiales que se pueden extender en películas finas en la superficie del chip, pueden convertirse en nuestro recubrimiento de chip personalizado.