Rompiendo las limitaciones de la muestra, la microscopía de fuerza atómica de escaneo de cabeza de hombre durante el vuelo

La microscopía de fuerza atómica de escaneo de sonda (fm - nanoview ls - afm) rompe muchas limitaciones estructurales y de muestra de la microscopía de fuerza atómica tradicional, que es * producida y comercializada en masa primero, lo que puede lograr que la muestra no se mueva y la sonda se mueva para escanear la microscopía de fuerza Atómica. Romper las limitaciones del microscopio de fuerza atómica anterior para medir el tamaño y el peso de las muestras. Al mismo tiempo que se aplica a la medición de muestras súper grandes, feishiman también mejora la escalabilidad de la Mesa de muestras para lograr una medición conveniente de muestras in situ con múltiples instrumentos. De acuerdo con las necesidades de los clientes, se puede personalizar el microscopio de fuerza atómica de escaneo de sonda. Es ampliamente utilizado en la investigación de muestras de materiales semiconductores y materiales de grafeno.