Espectrómetro de fluorescencia de rayos X

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X (xrf) es un instrumento de análisis no destructivo basado en el principio de fluorescencia de rayos x, que es ampliamente utilizado en el campo de la detección de composición elemental. Su principio central es que los rayos X de alta energía estimulan los átomos de elementos en la superficie de la muestra, hacen que los electrones interiores salten para formar agujeros, los electrones exteriores liberan fluorescencia de rayos X característicos cuando se llenan, capturan la energía de fluorescencia a través de detectores y la analizan, lo que puede detectar rápidamente, cualitativamente y cuantitativamente los Tipos y contenidos de elementos en la muestra. El XRF tiene las ventajas de ser no destructivo, rápido en el análisis (una sola prueba tarda solo unos segundos a unos minutos), detección simultánea de múltiples elementos, etc., apoya una variedad de formas de muestra, como sólidos, polvos y líquidos, es adecuado para la metalurgia, geología, protección del medio ambiente, petroquímica y otras industrias, y es una herramienta importante para la ciencia de materiales y el control de calidad industrial.