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Celebrar la mejora exitosa del detector de cristal de chip de 32.768 kHz en nuestra empresa
Fecha:2025-06-26Leer:0

¡¡ felicitaciones cálidas a nuestra empresa por el éxito del proyecto de mejora del probador de vibración de cristal de chip de 32.768 khz! Este resultado encarna la sabiduría y el sudor de todo el equipo de I + D y marca un nuevo avance en el campo de la tecnología de detección de cristal en nuestra empresa. ¡Esta mejora Mejora mejora en gran medida la precisión y la eficiencia de las pruebas, inyecta un impulso más fuerte en el control de calidad del producto y espera seguir trabajando juntos en el futuro para escalar más picos tecnológicos!

庆祝我司32.768KHz贴片晶振测试仪改进成功

Después de esta actualización tecnológica, los siguientes cristales de 32.768 kHz se pueden probar rápidamente, lo que mejora efectivamente la eficiencia de la prueba.

imagen tipo modelo Tamaño del paquete frecuencia Tensión / carga Diferencia de frecuencia temperatura de trabajo Solicitud de muestra Página PDF
庆祝我司32.768KHz贴片晶振测试仪改进成功 32768khz reloj Crystal smd2012 H21 2.0x1.2x0.6mm 32.768KHz 12.5pF o específico ±10ppm o específico -40℃~+85℃ o específico navegar
庆祝我司32.768KHz贴片晶振测试仪改进成功 32768khz reloj Crystal smd3215 H31 3.2x1.5x0.75mm 32.768KHz 12.5pF o específico ±10ppm o específico -40℃~+85℃ o específico navegar
庆祝我司32.768KHz贴片晶振测试仪改进成功 32768khz reloj Crystal smd7015 G146 7.0x1.5mm 32.768KHz 12.5pF o específico ±10ppm o específico -40℃~+85℃ o específico navegar
庆祝我司32.768KHz贴片晶振测试仪改进成功 32768khz reloj Crystal smd8038 G306 8.0x3.8x2.54mm 32.768KHz 12.5pF o específico ±10ppm o específico -40℃~+85℃ o específico navegar
庆祝我司32.768KHz贴片晶振测试仪改进成功 32.768KHz 圆柱晶振 2*6 Y26 2.0x6.0mm 32.768KHz 12.5pF o específico ±10ppm o específico -20℃~+70℃ o específico navegar
庆祝我司32.768KHz贴片晶振测试仪改进成功 32.768KHz 圆柱晶振 3*8 Y38 3.0x8.0mm 32.768KHz 12.5pF o específico ±10ppm o específico -20℃~+70℃ o específico navegar