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Shanghai Haokuo Scientific Equipment Co., Ltd
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Pruebas no destructivas de película delgada temperatura de Transición de fase y coeficiente de expansión térmica - analizador térmico de potencia óptica (opa)
Fecha:2015-07-08Leer:1

Este instrumento es una prueba no destructiva y puede detectar simultáneamente la temperatura de cambio de fase y el coeficiente de expansión térmica del material. El éxito de la investigación y el desarrollo de la OPA se compensa de un solo golpe.
Se presenta un vacío técnico en la detección no destructiva de la temperatura de cambio de fase y el coeficiente de expansión térmica de los materiales de película de nivel nanométrico, que pueden medir materiales de película de hasta 5 nm.
Este instrumento tiene una serie de invenciones y tiene derechos de propiedad intelectual independientes.