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Shanghai Haokuo Scientific Equipment Co., Ltd
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Coeficiente de seebeck de película delgada y sistema de prueba de parámetros termoeléctricos de película delgada
Fecha:2015-07-08Leer:2

Este producto adopta el método de medición cuasidinámica, que puede medir simultáneamente el coeficiente seebeck y la resistencia eléctrica del material de película delgada, y el rango de medición de temperatura alcanza
80K a 600K.

Características del hardware
El método dinámico mide el coeficiente de seebeck, evitando el error del sistema de la medición estática sobre la medición de la diferencia de temperatura, y la medición es más precisa.

¿¿ qué?

Con un sistema de calefacción bidireccional, hay puntos malos en la prueba y se puede volver a probar.
¿¿ qué?

La medición del coeficiente de seebeck y la medición de la resistencia no comparte la sonda de voltaje para evitar el problema de la falla de rotura del micro - termómetro.
¿¿ qué?

El software es fácil de operar e inteligente para realizar modos manuales y automáticos.