Este instrumento utiliza el método cuasi - dinámico (con tecnología) y el método de cuatro sondas para medir el coeficiente seebeck y la resistencia eléctrica de la muestra, respectivamente.No
Solo se puede utilizar para medir muestras de bloques semiconductores, muestras semimetálicas metálicas como cobre, níquel y bismuto, muestras no metálicas como grafito y materiales de carbono.
El coeficiente de seebeck y la resistencia eléctrica también se pueden medir en el coeficiente de seebeck y la resistencia eléctrica de las muestras de película delgada (nano).

* ventajas
Tener derechos de propiedad intelectual independientes y obtener múltiples tecnologías;
¿¿ qué?

El método dinámico mide el coeficiente de seebeck, evitando el error del sistema del método de medición estática tradicional en la medición de la diferencia de temperatura, y la medición es más precisa;
¿¿ qué?

La medición del coeficiente de seebeck y la resistencia no comparte la sonda de voltaje para evitar el problema de la falla de rotura del micro - termómetro;
¿¿ qué?

Adoptar un sistema de calefacción bidireccional;
¿¿ qué?

Protección automática contra cortes de energía;
¿¿ qué?

Con accesorios de película (sin host, uso directo), se puede medir directamente el coeficiente seebeck y la resistencia eléctrica del material de película a temperatura ambiente.