La Mesa fría y caliente de la sonda es un instrumento científico que combina la prueba de la sonda con el control de la temperatura, y se utiliza principalmente para la prueba de las propiedades eléctricas de los dispositivos semiconductores en entornos de alta / baja temperatura. Se puede lograr un control preciso de la temperatura de - 190 ° C a + 600 ° c, apoyando un calentamiento / enfriamiento rápido (1 - 200 ° C / min), adecuado para experimentos como la sinterización de materiales y el análisis del punto de fusión. Equipado con un sistema de sonda de precisión que admite pruebas de corriente continua / radiofrecuencia, puede medir la resistencia del chip, las pruebas de fiabilidad y las pruebas de características de temperatura en entornos de alta / baja temperatura. Compatible con el microscopio óptico, puede observar cambios microestructurales como inclusiones de fluidos y inclusiones fundidas, y es adecuado para minerales, Ciencias de materiales y otros campos. ¿ sí?
Sus funciones centrales son:
Control de rango de temperatura amplio: a través de la refrigeración de nitrógeno líquido, calefacción por resistencia eléctrica o refrigeración por semiconductores (efecto peltier), se logra un control de rango de temperatura amplio de - 190 ° C a 1000 ° c.
Prueba eléctrica de la sonda: equipada con una plataforma de desplazamiento de precisión de tres ejes X / y / Z (por ejemplo, precisión de desplazamiento ≤ 1 micra), que admite la alineación de la sonda con la superficie de la muestra a nivel de micron, para lograr pruebas de propiedades eléctricas como conductividad eléctrica y curva IV. Por ejemplo, en el estudio de dispositivos semiconductores, las propiedades eléctricas de las muestras a nivel de obleas a diferentes temperaturas se pueden medir con precisión.
Sinergia de imágenes microscópicas: ventanas ópticas transparentes integradas (como vidrio zafiro) o diseño de agujeros transparentes, compatibles con microscopía óptica, microscopía fluorescente y espectrómetro Raman y otros equipos para lograr la observación en tiempo real de la microestructura de la muestra durante el cambio de temperatura. Por ejemplo, en la ciencia de los materiales, se pueden observar cambios en la estructura cristalina de los materiales poliméricos durante la transición de fase.
escenarios de aplicación
Prueba de semiconductores: evaluación de la estabilidad de las propiedades eléctricas del chip a la temperatura *. ¿ sí?
investigación de materiales investigación de propiedades termofísicas como el coeficiente de expansión térmica y la temperatura de cambio de fase. ¿ sí?
Pruebas industriales: pruebas de resistencia a la temperatura y fiabilidad de piezas de automóviles y componentes electrónicos.