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Introducción de la serie de productos KC - x3000 del microscopio de medición de precisión kaishimai tres en uno
Fecha:2025-10-24Leer:1

serie KC - x3000 de microscopio de medición de precisión de tres en uno

El modelo KC - x3000 del perfilador óptico tridimensional de la superficie de kaishimai es un instrumento de detección de nivel submicron, ampliamente utilizado en el escaneo y medición de la superficie de microestructuras y materiales especiales. El módulo de medición adopta la tecnología confocal espectral, que puede medir la información de altura de varios materiales sin contacto y con alta precisión. Combinando el módulo de escaneo XY controlado por retroalimentación y el algoritmo de imagen tridimensional, se obtiene una microestructura superficial fina. En el módulo de postprocesamiento gráfico rico en funciones, también se puede realizar el procesamiento de imágenes con flexibilidad y realizar funciones de medición como plano, contorno, escalón promedio, altura del punto, pico y valle, volumen, área y rugosidad. El Microscopio confocal espectral láser de la serie kathmatickc es ampliamente utilizado en semiconductores, electrónica de consumo, baterías de litio, desarrollo de nuevos materiales, fabricación de dispositivos ópticos, mecanizado y otros campos, y ha sido reconocido unánimemente por los usuarios.

Rango de escaneo súper grande: el tamaño de la muestra medida puede alcanzar los 350 mm x 300 mm

Precisión de medición: la resolución del eje Z puede alcanzar los 2 nm

Función de análisis: el software tiene su propia función de procesamiento y análisis de imágenes, que puede realizar análisis de contorno, análisis de plano, análisis de volumen, análisis de rugosidad, análisis estadístico y otros trabajos de análisis de datos.

Operación del equipo: la muestra no necesita ser procesada previamente, el software viene con su propia navegación operativa, la interfaz interactiva es clara y fácil de entender, y se puede realizar una medición profesional con un poco de aprendizaje.

Adaptabilidad del material: todos los materiales se pueden medir, la reflectividad de la muestra apenas afecta a la medición, y la adaptabilidad de la pendiente de la superficie es tan alta como ± 45 grados.

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