Principio de funcionamiento
El tipo de dispersión de energía XRF (ed - xrf) recibe directamente los rayos X característicos producidos después de la excitación de la muestra a través de un detector de semiconductores, los convierte en señales eléctricas de acuerdo con la energía y los procesa en un circuito electrónico para formar una línea espectral característica elemental. Su núcleo es que no es necesario dividir el cristal óptico, distinguir diferentes elementos a través de la resolución energética del detector, y realizar la detección simultánea de múltiples elementos.
El tipo de dispersión de longitud de onda XRF (wd - xrf) utiliza el efecto de refracción cristalina para dispersar los rayos X característicos en diferentes líneas espectrales de acuerdo con la longitud de onda. Después de que la muestra está estimulada, el cristal espectrómetro separa los rayos X de diferentes longitudes de onda, el detector recibe señales de longitud de onda específicas y combina la Ley de Praga para realizar el análisis de elementos. Su núcleo radica en el cribado preciso de la longitud de onda por cristales espectrales para garantizar la detección de alta resolución.
Frontera dominante
Resolución y sensibilidad
WD - XRF utiliza cristales espectrales, que pueden separar eficazmente las líneas espectrales características de los elementos adyacentes, con una mayor resolución, especialmente adecuadas para el análisis de oligoelementos (límite de detección de hasta el nivel μg / g). La resolución de Ed - XRF es relativamente baja, pero el rendimiento es mejor en el rango de fotones de alta energía, y el límite de detección puede alcanzar el nivel de 10 a 10 Mu G / g en condiciones de matriz ligera.
Velocidad de análisis y facilidad de operación
El Ed - XRF no necesita reemplazar el cristal divisor de luz, puede detectar todos los elementos al mismo tiempo, la velocidad de análisis es rápida (60 - 100 segundos para completar la determinación de múltiples elementos), la operación es simple, adecuada para la detección rápida de la línea de producción. WD - XRF requiere seleccionar cristales en función de los elementos, y el análisis de un solo elemento lleva más tiempo (2 - 5 minutos), pero el analizador multicanal puede acortar el tiempo de detección de múltiples elementos.
Adaptabilidad de la muestra
Ed - XRF no tiene requisitos especiales para la forma de la muestra y puede analizar directamente sólidos, polvos y líquidos, lo que es adecuado para la detección de muestras irregulares. WD - XRF requiere que la superficie de la muestra sea plana (como lijado sólido y prensado en polvo) para garantizar la precisión de la prueba, pero el equipo de preparación de muestras es fácil de obtener y el proceso de preparación de muestras está estandarizado.
Costo y mantenimiento del equipo
El Ed - XRF tiene una estructura simple, baja potencia (> 100w), no requiere un sistema de enfriamiento de alta potencia, bajo costo del equipo (40000 - 150000) y fácil mantenimiento. WD - XRF está equipado con tubos de rayos X de alta potencia (1 - 4kw) y un sistema de División de precisión, con un costo de equipo más alto (100.000 a 400.000), pero una larga vida útil (> 10 años) y una mejor estabilidad a largo plazo.
escenarios de aplicación
Ed - xrf: adecuado para escenarios que requieren pruebas rápidas, como la inspección de calidad industrial y el monitoreo ambiental, como la verificación del cumplimiento de los productos plásticos RoHS y el monitoreo en línea del grado de mineral.
WD - xrf: adecuado para escenarios que requieren análisis de alta precisión, como la investigación científica y la exploración geológica, como la determinación del contenido de metales pesados en el suelo y el análisis de la composición mineral.