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Métodos de prueba para el recubrimiento de control térmico de naves espaciales - parte 3: prueba de emisividad - método del radiómetro
Fecha:2025-12-22Leer:1


Gjb 2502.3-2015 método de prueba del recubrimiento de control térmico de naves espaciales parte 3: prueba de emisividad

alcance
Esta parte estipula el propósito, el alcance y la precisión, los principios, el equipo y los requisitos, las condiciones, las muestras, los procedimientos, el procesamiento de datos y la presentación de informes de las pruebas de emisividad hemisferio y emisividad normal de los recubrimientos de control térmico de las naves espaciales.
Esta parte se aplica a la prueba de la emisividad del recubrimiento de control térmico de la nave espacial.

Método de termómetro en Estado estable de la tasa de emisión del hemisferio (método 2011)
Propósito de la prueba
Determinar la emisividad del hemisferio de la muestra probada y la muestra de referencia del recubrimiento de control térmico de la nave espacial.

Método de emisividad normal (método 2021)
Propósito de la prueba
Determinar la tasa de emisión normal de la muestra probada del recubrimiento de control térmico de la nave espacial.

Método del radiómetro (método 2031)
Propósito de la prueba
Determinar la tasa de emisión del hemisferio de la muestra probada del recubrimiento de control térmico de la nave espacial.
Alcance y precisión de las pruebas
El rango de prueba de la tasa de emisión del hemisferio es de 0,03 a 0,95, y la precisión de la prueba es de 0015.
Principio de prueba
La señal de salida del detector de radiómetro está linealmente relacionada con la tasa de emisión de la muestra probada, y la tasa de emisión de la muestra probada se obtiene directamente comparando el tamaño de la muestra de referencia de alta y baja tasa de emisión equipada con el radiómetro y la señal de salida de la muestra probada.
Equipos y requisitos de prueba
Detector de radiómetro: repetibilidad ± 0,01.
Milivoltímetro: sensibilidad 0,01 mv.
Hundimiento térmico: buena conducción térmica y alta radiación en la superficie.
Muestra de referencia: se requiere de acuerdo con las regulaciones 4.3 En gjb 2502.1-2015.
Condiciones de prueba
La temperatura de la muestra probada debe ser la misma que la temperatura de la muestra de referencia.
La temperatura de la Sala de pruebas es de 15 ° C a 25 ° c, y las demás condiciones se estipulan en 4,1 en gjb 2502.1-2015.
Muestra probada
La superficie debe ser plana, buena conducción térmica y libre de contaminación.
El tamaño debe ser mayor que el diámetro del detector, y el espesor generalmente no debe exceder de 2 mm.
El radio de curvatura debe cumplir con los requisitos del instrumento.
Otros requisitos se ajustan a lo estipulado en 4.3 En gjb 2502.1-2015.
Programa de prueba
Preparación antes de la prueba
El instrumento se precalienta durante unos 30 minutos.
prueba
Coloque las muestras de referencia de alta y baja emisión en el disipador de calor, y los detectores en las muestras de referencia de alta y baja emisión, respectivamente, para que los valores mostrados en el instrumento de discusión sean iguales a sus respectivos valores de emisión mediante ajuste fino, este paso se repite.
Coloque la muestra probada sobre el disipador de calor y coloque el detector en la superficie de la muestra probada durante unos 90 segundos. cuando la lectura se estabilice, la lectura será la tasa de emisión de la muestra probada. Este proceso se lleva a cabo al menos tres veces.
Procesamiento de datos
La media aritmética de los tres valores de prueba se utiliza como la tasa de emisión del hemisferio de la muestra probada.
Informe de prueba
Los requisitos del informe de prueba se estipulan en 4.4.3 en gjb 2502.1-2015.

Método de reflexión - portátil (método 2041)
Propósito de la prueba
Determinar la tasa de emisión del hemisferio del recubrimiento de control térmico en la superficie de naves espaciales y piezas.


Radiómetro D & S aerd