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¿¿ qué?Juli Optoelectronics (beijing) Technology co., Ltd.
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- sí.08.11,20220
Este video discute que los diodos orgánicos emisores de luz (oled) son dispositivos multicapa en los que ocurren varios procesos físicos diferentes al mismo tiempo. Por ejemplo, los modelos simples y las fórmulas analíticas para extraer la movilidad de los transportistas de carga solo pueden utilizarse en un rango limitado. Es una de las razones por las que desarrollamos y utilizamos una combinación de simulación de software y dispositivos de caracterización avanzada.
Phelos OLED spectrometry System / Angle spectrometry Analysis

Phelos se utiliza para medir las características espectrales de emisión y los ángulos de polarización de oled, Perovskita LED y otros dispositivos emisores de luz, así como la relación entre los espectros de polarización s y p, los espectros de emisión y los ángulos de los dispositivos, y calcular el ángulo de emisión y la distribución de posición de los radicales en la capa emisora de partida.
Función de medición pl:Espectros de emisión y ángulos de polarización de películas orgánicas, cuánticas y perovskitas
Función de medición el:OLED、 Perovskita LED y otros dispositivos emisores de luz
Software de simulación de simulación setfos

Setfos se utiliza en sistemas de simulación para el rendimiento de varios tipos de células solares (incluyendo perovskita, orgánica, laminada, células a base de silicio, etc.), LED de perovskita, dispositivos OLED y materiales fotoeléctricos relacionados, y realiza cálculos de simulación y optimización del diseño, construcción, propiedades ópticas, propiedades eléctricas y propiedades de materiales fotoeléctricos.
Cuatro módulos: módulo de absorción, módulo óptico de dispersión / avance, módulo de difusión a la deriva, módulo de emisión óptica
Sistema de prueba de características transitorias de las células solares paios / OLED

Paios se utiliza para medir y analizar el espectro de flujo fotovoltaico instantáneo de las células solares tpc, el espectro de presión fotovoltaica instantánea tpv, la prueba de correlación de intensidad, el espectro transitorio de nivel profundo dlts, etc., caracterizando de manera integral y profunda los parámetros de rendimiento del dispositivo, como la movilidad del portador, la vida y concentración del portador, el proceso dinámico del portador, el dopaje y la distribución de trampas, con el fin de analizar y medir la movilidad del portador en los dispositivos solares / OLED y otros Semiconductores orgánicos de manera integral y efectiva.
Función de prueba de paios:
• espectro fotovoltaico transitorio TPC
• espectro fotovoltaico transitorio TPV
• atenuación de tensión en circuito abierto ocvd
• prueba de correlación de intensidad, curva J - V de intensidad variable, intensidad ISC - luz, intensidad VOC - luz, factor ideal, etc.
- extracción de transportistas de sobrealimentación lineal Photo - celiv, Dark - celiv, delaytime - celiv, etc.
- extracción de carga CE
• inyección oscura DIT
• espectro de fotoflujo de modulación de intensidad imps
• espectro de fototensión de modulación de intensidad imvs
• espectro de resistencia is
• espectro de voltaje capacitivo CVS
• espectro transitorio de nivel profundo dlts
• espectro de Electroluminiscencia instantánea Tel
- espectro luminoso J - V - L de corriente - voltaje, etc.
- Banco de pruebas de cambio de temperatura: - 120 ° C a 150 ° C