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¿¿ a qué indicadores debe prestar atención el perfilador de superficie tridimensional al comprar?
Fecha:2025-09-13Leer:0
  Perfilador de superficie tridimensionalEs un instrumento de medición de precisión utilizado para medir la morfología tridimensional de la superficie de un objeto con alta precisión, que es ampliamente utilizado en electrónica, automóviles, semiconductores, ciencia de materiales y pruebas industriales.
  Perfilador de superficie tridimensionalEl rendimiento está determinado por los parámetros técnicos clave, y los requisitos para los parámetros varían significativamente entre los diferentes escenarios de aplicación. al comprar, debemos centrarnos en los siguientes indicadores:
1. alcance de la medición:
Incluye el rango transversal (eje X / y, que determina el tamaño grande de la muestra medible) y el rango longitudinal (eje z, que determina la diferencia de altura grande de la superficie medible).
2. resolución:
Resolución longitudinal: la capacidad de medir y distinguir la pequeña diferencia de altura de la superficie es el indicador central;
Resolución transversal: mide la capacidad de distinguir las características transversales diminutas de la superficie, que está relacionada con la multiplicación del objetivo del sistema óptico y los píxeles del detector.
3. precisión de medición:
Se refiere a la desviación del resultado de la medición del valor real, que generalmente incluye el error lineal (lineal del desplazamiento del eje z), el error de repetibilidad (desviación de la misma posición medida muchas veces), el error de planitud (desviación de medición del plano de calibración).
4. velocidad de medición:
Dependiendo del método de escaneo (escaneo punto a punto, escaneo de línea, escaneo de superficie) y la eficiencia del procesamiento de datos:
Proyección de luz estructural: escaneo facial, velocidad * rápida (milisegundos, adecuado para la detección en línea);
Microscopio de fuerza atómica: escaneo punto a punto, velocidad * lenta (nivel de minuto, adecuado para análisis de precisión fuera de línea);
Interferómetro de luz blanca: escaneo de línea, velocidad media (segundo a minuto, teniendo en cuenta la precisión y la eficiencia).
5. compatibilidad de la muestra:
Incluye el material de la muestra (metal, no metálico, transparente / opaco, conductor / aislamiento), el tamaño (si se adapta a la Mesa de muestra), el Estado de la superficie (liso / áspero, seco / húmedo).