Nuevo ft230 del medidor de espesor de recubrimiento Hitachi XRF

El diseño del analizador de radiofrecuencia de escritorio ft230 reduce considerablemente el tiempo de medición. Los ingenieros Hitachi son conscientes de que la configuración de las muestras y la elección de las fórmulas de medición suelen llevar mucho tiempo, por lo que han lanzado un analizador innovador que puede 'configurarse' de manera efectiva para que más piezas puedan analizarse durante el proceso.

El software automatizado e innovador es una característica del analizador ft230. Módulos de identificación inteligentes como find my parts ™ (buscando mis muestras), significa que el operador solo tiene que cargar las muestras y confirmar las piezas, y el ft230 se ocupará del ResTo. Encontrará la posición de medición correcta en su componente - incluso en un sustrato grande - para seleccionar el programa de análisis correcto y enviar los resultados a su sistema de calidad. Reducir el tiempo y los errores humanos le permite completar más análisis en menos tiempo y hacer que el 100% de las inspecciones sean más realistas en un entorno de producción ocupado.