Espectrómetro de masas ICP de espectro completoPor lo general, se refiere a la espectrometría de masas de plasma acoplada inductivamente en el tiempo de vuelo, que es una tecnología de análisis de elementos de alto rendimiento basada en el analizador de masa del tiempo de vuelo.
Principio de funcionamiento:
1. ionización de la muestra: la muestra entra en el plasma de alta temperatura a través del atomizador, se evapora, atomiza e ioniza rápidamente en un ambiente de alta temperatura, produciendo una gran cantidad de iones.
2. extracción y separación de iones: los iones ionizados se extraen al sistema de vacío a través del Cono de interfaz y entran en el analizador de masa de tiempo de vuelo.
3. separación y detección de masas: los iones entran en el tubo de deriva sin campo con la misma energía cinética después de acelerar el campo eléctrico. los iones de pequeña masa tienen un tiempo de vuelo corto y un tiempo de vuelo largo. La separación de masa se realiza mediante la detección de diferencias en el tiempo de vuelo, y un solo pulso puede capturar señales iónicas en todo el rango de masa.
4. procesamiento de datos: el convertidor digital de alta velocidad registra el tiempo de llegada de todos los iones, combina la curva de calibración para convertir el tiempo en relación masa - carga (m / z) y genera un espectrómetro de masas completo.
Espectrómetro de masas ICP de espectro completoVentajas:
Adquisición simultánea de todo el espectro: un solo pulso puede capturar señales iónicas de toda la gama de masa, evitando el retraso de tiempo del escaneo de cuatro polos y mejorando significativamente la eficiencia del análisis.
Alta sensibilidad: capaz de detectar concentraciones más bajas de elementos, el límite de detección puede alcanzar danak por ML o menos.
Amplio rango dinámico: el rango lineal puede alcanzar varios órdenes de magnitud, adecuado para la determinación simultánea de una variedad de elementos, incluidos elementos de alta y baja concentración.
Baja interferencia y Fondo bajo: reducir efectivamente el impacto de la interferencia y la señal de fondo mediante un diseño cuidadoso y optimización de la estructura del instrumento, así como la adopción de buenas técnicas de corrección de interferencia.
Análisis simultáneo de múltiples elementos: se pueden analizar varios elementos al mismo tiempo, y el ancho de la superficie de los elementos que se pueden determinar.