Espectrómetro de emisiones de rayos X(xes) se ha convertido en una herramienta clave para estudiar la composición, estructura y mecanismo de reacción de las sustancias en el análisis químico por su alta sensibilidad elemental y capacidad de resolución de Estados químicos.

　　Espectrómetro de emisiones de rayos XResolución de Estados químicos y análisis de microregiones:

Capacidad de resolución de Estados químicos

Al medir el Desplazamiento químico de los rayos X característicos (es decir, el desplazamiento de picos espectrales), el xes puede distinguir los diferentes Estados de oxidación o entornos de coordinación del mismo elemento. Por ejemplo:

Estado de oxidación del hierro: la diferencia de energía de emisión de rayos kalfa entre fem2 (por ejemplo, feo) y feò (por ejemplo, fe₃) es de aproximadamente 1 - 2 ev, y xes se puede distinguir claramente.

El Estado de Valencia del azufre: la diferencia de energía de la línea s k Alfa entre s m2 (sulfuro) y so m2 (sulfato) es significativa para la trazabilidad de contaminantes ambientales.

Microzona y análisis no destructivo

En combinación con el microscopio electrónico de barrido (sem) o el microscopio electrónico de transmisión (tem), xes puede realizar un mapeo de Estados químicos de áreas de micras a nanómetros, revelando la desigualdad del material.

No es necesario preparar muestras complejas y es adecuado para el análisis no destructivo de materiales frágiles o heterogéneos (como cerámica, tejidos biológicos).