La compañía es una institución que integra la investigación de la tecnología de dopaje de semiconductores de tercera generación de carburo de silicio (sic) en China y la investigación y desarrollo, diseño, fabricación, aplicación y venta de dispositivos. Es un investigador comprometido con el diseño estructural y el Crecimiento epitaxial de chips semiconductores de alta potencia, mosfet, diseño y aplicación de chips igbt, embalaje y disipación de calor de dispositivos de potencia semiconductores de tercera generación.

Thetametrisis es una empresa de alta tecnología desarrollada independientemente del Centro Nacional de investigación y desarrollo científico de grecia. la tecnología principal es utilizar el método de análisis espectral de reflexión óptica para medir con precisión el espesor de una sola y varias capas y el índice de refracción, y el rango de medición del espesor varía de unos pocos nanómetros a micras.

FR - scanner (370 nm - 1020 nm) es un instrumento de medición de escritorio con una pequeña superficie, adecuado para medir automáticamente el espesor del recubrimiento en diferentes posiciones en la obleas. FR - scanner puede medir las propiedades de la película de manera rápida y precisa, como el grosor, el índice de refracción, etc. La etapa wafer con adsorción al vacío permite probar productos de diferentes tamaños y formas.

El FR - scanner escanea todo el disco girando el disco y el disco de movimiento lineal de alta velocidad y precisión (radio y ángulo), de esta manera, se pueden registrar datos precisos de reflectividad con alta repetibilidad, convirtiendo al FR - scanner en una herramienta ideal para mapear el recubrimiento u otros recubrimientos en el disco at - Line y on - line.

El FR - scanner ofrece una amplia gama de configuraciones de aplicaciones, con películas delgadas a pocos nanómetros y gruesas a cientos de micras, y un software especial para uso diario. El FR - scanner ofrece un excelente rendimiento en precisión, precisión, reproducibilidad y estabilidad a largo plazo.