El cliente, uno de los guías Chang de la industrialización de dispositivos de potencia de carburo de silicio (sic) en china, instaló en 2021 la primera thetametricis FR - scanner - AIO - mics, y este año el cliente compró un segundo y tercer dispositivo adicional (incluidos los rangos de luz visible y ultravioleta) debido al buen uso de la máquina.
El medidor de espesor de película FR - scanner - AIO - MICS utiliza una medición de interferencia de luz visible con un rango de longitud de onda de 370 - 1020 nm, capaz de medir el espesor de la película en el rango de 12 nm - 90 um (lente 5x), con una precisión del 0,2% o 2 nm y una precisión de 0,02 nm, que es un dispositivo de medición de espesor de película muy rentable. Configuración ultravioleta de FR - scanner, con un rango de longitud de onda tan bajo como 200 nm, se puede aplicar al espesor de la película (lente 5x) en el rango 4nm - 60um, con una precisión de hasta el 0,1% o 1 nm. la mayoría de los medidores de espesor de la película en el mercado han experimentado una reducción sustancial en el rango de medición del espesor de la película del equipo después de aumentar la configuración del microscopio, pero esto no sucederá en los productos thetametricis, cuyo rango de medición del espesor de la película sigue siendo amplio. Cabe mencionar que la implementación de la función de medición de Mapping multipunto es el estándar de la serie FR - scanner.