El microscopio industrial importado es un instrumento de precisión utilizado para observar y analizar objetos o estructuras diminutas, que funciona sobre la base de principios ópticos o de óptica electrónica, amplificando y presentando imágenes claras de micro - mundos invisibles o difíciles de observar directamente.

(1) microscopía industrial importada óptica

1. sistema de iluminación: generalmente se utiliza el método de iluminación kohler. La luz emitida por la fuente de luz ilumina uniformemente el objeto observado a través del reflector. La función del reflector es ajustar el ángulo y la intensidad de la luz para que la luz brille sobre el objeto en el ángulo adecuado, asegurando que todas las partes del objeto puedan obtener una iluminación uniforme y suficiente.

2. imagen de la lente objetivo: la lente objetivo es uno de los componentes clave del microscopio óptico. Está cerca del objeto observado y tiene una distancia focal más corta y una ampliación más alta. La lente amplifica el objeto por primera vez para formar una imagen real invertida. Esta imagen real se encuentra en el interior del foco de las gafas. La calidad y el rendimiento del objetivo tienen un impacto vital en la claridad y resolución de la imagen. Por ejemplo, las lentes de alta resolución pueden distinguir detalles de objetos más pequeños.

3. observación ocular: la función de la lente ocular es ampliar aún más la imagen formada por la lente. Hay una o más combinaciones de lentes en el interior de la lente, que amplifican de nuevo la imagen real formada por la lente y corrigen las posibles distorsiones generadas durante la imagen de la lente.

Ii) microscopía industrial importada electrónica

1. microscopía electrónica de transmisión (tem)

Emisión de haz de electrones: emisión de haz de electrones de alta velocidad por una pistola de electrones. Las pistolas de electrones generalmente tienen dos tipos: tipo de emisión de cátodo térmico y tipo de emisión de campo. El tipo de emisión de cátodo caliente consiste en emitir electrones calentando materiales como el alambre de tungsteno, mientras que el tipo de emisión de campo utiliza un fuerte campo eléctrico para extraer electrones de la superficie del emisor afilado. Estos electrones tienen una alta energía.

- interacción de la muestra: un haz de electrones de alta velocidad pasa por una muestra ultradelgada (generalmente el grosor de la muestra está en el nivel nanométrico). En el proceso de pasar por la muestra, los electrones chocan con los átomos en la muestra, y debido a las diferentes densidades atómicas y números atómicos en diferentes partes de la muestra, el grado de dispersión de los electrones también es diferente. Esta dispersión provoca cambios en la intensidad y fase del haz de electrones, llevando así información sobre la estructura interna de la muestra.

- sistema de imágenes: el haz de electrones después de pasar por la muestra se enfoca e imágenes a través del sistema de lentes electromagnéticas. La lente electromagnética utiliza un campo magnético generado por la corriente eléctrica a través de la bobina para refractar el haz de electrones, cuyo principio es similar al de la lente óptica para refractar la luz, pero el control es más flexible. Al ajustar la corriente eléctrica de la lente electromagnética, se puede cambiar la distancia focal y el efecto de enfoque de la lente, formando una imagen que refleje la estructura interna de la muestra en una pantalla fluorescente o negativo fotográfico.

2. microscopía electrónica de barrido (sem)

Escaneo de haz de electrones: el haz de electrones emitido por la pistola de electrones escanea la superficie de la muestra punto a punto bajo la acción de la bobina de escaneo. Las manchas de haz de electrones son pequeñas y generalmente se pueden enfocar en varios nanómetros de tamaño.

- recogida de señales: cuando el haz de electrones brilla sobre la superficie de la muestra, se estimula a la muestra a producir diversas señales, como electrones secundarios, electrones de retrodispersión, etc. Los electrones secundarios son electrones de baja energía que los átomos de la superficie de la muestra se escapan después de ser estimulados por un haz de electrones, lo que puede reflejar bien las características morfológicas de la superficie de la muestra. Los electrones de retrodispersión son los electrones que regresan después de la dispersión elástica entre los electrones incidente y los átomos de la muestra, y su rendimiento está relacionado con el número atómico de la muestra, que se puede utilizar para analizar la distribución de la composición de la muestra. Estas señales son recogidas por los detectores correspondientes.

- visualización de imágenes: las señales recogidas por el detector se amplifican y procesan para formar imágenes en la pantalla en el orden de escaneo del haz de electrones. Al ajustar los parámetros del haz de electrones y el modo de recepción del detector, se pueden obtener imágenes de diferentes contrastes e información para estudiar la morfología de la superficie, la composición, etc. de la muestra.