La microscopía electrónica de barrido (sem) es un microscopio de alta resolución que utiliza haces de electrones de alta energía para escanear la superficie de la muestra y obtener información sobre la morfología y composición de la superficie de la muestra a través de señales generadas por la interacción entre electrones y materia. La siguiente es una guía completa del SEM desde el principio hasta el funcionamiento:
I. principios de funcionamiento
Los componentes centrales del SEM incluyen pistolas electrónicas, lentes electromagnéticas, bobinas de escaneo, cámaras de muestra y detectores. El cañón de electrones emite un haz de electrones, que se forma después de la aceleración y el enfoque, y la bobina de escaneo controla el haz de electrones para el escaneo de rejilla en la superficie de la muestra. Después de que el haz de electrones interactúa con la muestra, se estimulan señales como electrones secundarios, electrones de dispersión posterior y rayos X característicos. Estas señales son recibidas por el detector y convertidas en señales eléctricas, que, después de ser amplificadas y procesadas, forman imágenes de la superficie de la muestra en la pantalla.
II. pasos operativos
Preparación de la muestra: la muestra debe ser seca, conductora y no magnética. Para las muestras no conductoras, es necesario realizar un tratamiento de chapado en oro o pulverización de carbono para aumentar la conductividad eléctrica.
Encendido e iniciación: conecte la fuente de alimentación, active el sistema de vacío y espere a que el vacío cumpla con los requisitos para activar el haz de electrones y el sistema informático.
Colocación de la muestra: coloque la muestra en la Mesa de muestra y ajuste la altura y posición de la Mesa de muestra para asegurarse de que la muestra esté dentro del rango de escaneo del haz de electrones.
Configuración de parámetros: de acuerdo con las características de la muestra y las necesidades de prueba, se establecen parámetros como voltaje de aceleración, haz, velocidad de escaneo y amplificación.
Observación y ajuste de la imagen: observar la imagen de la superficie de la muestra, ajustar el brillo y el contraste, mover la estación de muestra para localizar la región de interés, realizar operaciones de enfoque y eliminación de astigmatismo.
Conservación y procesamiento de imágenes: tomar y guardar imágenes, procesamiento y análisis de imágenes si es necesario.
Apagado: apague el haz de electrones, el sistema de vacío y la fuente de alimentación en el orden del Manual de operaciones.
III. Áreas de aplicación
El SEM es ampliamente utilizado en Ciencias de los materiales, biología, medicina, Ciencias de la tierra, física e ingeniería, y se utiliza para observar la morfología de la superficie de los materiales, analizar la composición y estructura, estudiar la morfología de la fractura y el mecanismo de falla.